IT之家 3 月 10 日消息，在傳統(tǒng) IT 認知中，U 盤向來被視作一次性存儲設(shè)備，絕不能用來存放重要數(shù)據(jù)。這種觀點的核心依據(jù)，不只是 U 盤容易丟失、容易損壞，更在于其內(nèi)部的 NAND 閃存通常被認為會在較短時間內(nèi)失效，斷電數(shù)據(jù)保存能力尤其令人擔憂。而一位頗有探索精神的科技博主兼 Reddit 用戶，正在開展一項小規(guī)模測試，目前結(jié)果相當樂觀。

時間回到疫情肆虐的 2020 年，扎卡里 · 萬斯（Zachary Vance）從亞馬遜購入了 10 個金士頓 DataTraveler SE9 32GB USB 2.0 U 盤，通過直接塊寫入的方式將其存滿隨機數(shù)據(jù)。他把這些 U 盤妥善封存，并計劃每年比前一年多檢測至少一個 U 盤的數(shù)據(jù)完整性。檢測年份按照 +1、2、3、4、6、8、11、15、20、27 的節(jié)奏推進。

今年是 2026 年，測試已進行到第 5 輪，結(jié)果與往年一致：迄今為止已檢測 5 個 U 盤，未出現(xiàn)任何數(shù)據(jù)比特衰減。萬斯的方法是每年多檢測一個 U 盤是否發(fā)生比特翻轉(zhuǎn)，并將狀態(tài)完好的 U 盤重新完整寫入數(shù)據(jù)。到目前為止，所有被測 U 盤均表現(xiàn)完美，有力挑戰(zhàn)了“U 盤數(shù)據(jù)在斷電半年到一年后就無法讀取”的傳統(tǒng)認知。

據(jù)悉，目前尚無專門針對消費級 U 盤長期數(shù)據(jù)保存能力的大規(guī)模測試，萬斯的這項試驗幾乎是能找到的唯一相關(guān)研究。有評論者指出其測試方法存在局限：首先，10 個 U 盤均為同一品牌、同一型號，且?guī)缀蹩梢源_定是同一批次；其次，他將 U 盤置于“標準環(huán)境”中，也就是衣柜里的盒子，推測有一定的溫度控制。

萬斯的測試結(jié)果固然樂觀，但 U 盤的品牌型號與存儲溫度，很可能是影響其壽命的關(guān)鍵因素。IT之家注意到，Reddit 用戶卡尼爾多（Carnildo）近期也做了一項為期 1 年、3 個 U 盤的對比測試：選用 3 個輕度使用過的特價 U 盤，1 個必恩威（PNY）、2 個不同型號的雷克沙（Lexar），均來自辦公用品店的超低價促銷款。

他將第一個 U 盤斷電放在無溫控的閣樓里，該空間“冬季大部分時間處于冰點以下”；第二個 U 盤斷電存放于室溫環(huán)境；第三個 U 盤則定期讀取。

一年后，三個 U 盤均出現(xiàn)數(shù)據(jù)損壞，其中故障最多的反而是斷電放在室內(nèi)的 U 盤，而定期讀取的“活躍”U 盤故障最少。從這些樣本量小、結(jié)論相互矛盾的有限測試中，我們能得出的結(jié)論是：U 盤品質(zhì)與存儲方式，大概率是影響數(shù)據(jù)保存的最大因素。

盡管閃存芯片廠商理應遵循 JEDEC JESD47 標準 —— 該標準要求閃存芯片通過模擬 55℃ 環(huán)境下保存 10 年的持續(xù)測試，但這一標準并無任何強制約束力，僅適用于商業(yè)合作場景。即便在汽車、航空等對閃存有應用的行業(yè)，可通過供應商合同、合格供應商清單（QVL）明確要求合規(guī)，但普通消費級 U 盤，尤其是雜牌產(chǎn)品，并無此類檢測。

因此，最穩(wěn)妥的方案始終是：選用知名品牌的高規(guī)格 U 盤，在室溫、濕度可控的環(huán)境下存放，并且務必隨時做好備份。