在集成電路（IC）制造和半導(dǎo)體行業(yè)中，wafer、die 和 chip 是三個(gè)常見的術(shù)語。它們分別指代了半導(dǎo)體制造過程中的不同階段或形式的產(chǎn)品。以下是它們的定義、區(qū)別以及彼此之間的聯(lián)系的詳細(xì)解析：

1. Wafer（晶圓）

定義：晶圓（Wafer） 是一種薄片狀的半導(dǎo)體材料，通常由高純度的硅（也可以是其他材料如砷化鎵）制成，作為制造集成電路的基礎(chǔ)材料。

晶圓是半導(dǎo)體制造的起點(diǎn)，是經(jīng)過多重加工后用來制作數(shù)千甚至數(shù)萬個(gè)微小電路（Die）的載體。

尺寸：晶圓的直徑通常有多種規(guī)格，例如 150mm（6英寸）、200mm（8英寸）和 300mm（12英寸）。未來還在研發(fā) 450mm 的大尺寸晶圓。

晶圓的厚度通常約在 500-800 微米之間。

材料：主要使用單晶硅，通過布里奇曼法（Czochralski Process）拉制得到的單晶硅錠切片并拋光。

也可以采用其他化合物半導(dǎo)體材料，比如砷化鎵（GaAs）、氮化鎵（GaN）等。

作用：晶圓表面通過光刻、刻蝕、沉積等一系列半導(dǎo)體工藝，制造出多層結(jié)構(gòu)和復(fù)雜的微電路。

一個(gè)晶圓上會(huì)包含多個(gè) Die，排列形式通常為矩陣狀。

2. Die（裸片/芯粒）

定義：Die（芯�；蚵闫� 是通過切割晶圓得到的單個(gè)功能單元，也就是未封裝的半導(dǎo)體電路。

每個(gè) Die 是晶圓上經(jīng)過光刻和制造的獨(dú)立微電路部分。

尺寸：Die 的大小取決于集成電路的復(fù)雜程度和設(shè)計(jì)。面積通常從幾平方毫米到上百平方毫米不等。

功能：一個(gè) Die 通常實(shí)現(xiàn)一個(gè)具體的電路功能，如處理器、存儲(chǔ)器單元等。

每個(gè) Die 都包含完整的邏輯電路（如 CPU 核心）或功能模塊。

加工過程：晶圓完成制造后，會(huì)經(jīng)過晶圓測(cè)試（Wafer Testing），測(cè)試每個(gè) Die 是否合格。

隨后通過切割晶圓（Dicing）分離出每個(gè)獨(dú)立的 Die。

3. Chip（芯片）

定義：Chip（芯片） 是經(jīng)過封裝后的 Die，能夠作為一個(gè)獨(dú)立的產(chǎn)品或模塊直接使用。

它是最終交付給客戶或集成到設(shè)備中的半導(dǎo)體產(chǎn)品。

封裝（Packaging）：裸片（Die）被封裝以保護(hù)內(nèi)部電路，并提供引腳或接觸點(diǎn)以便與外部設(shè)備連接。

常見封裝形式包括 BGA（球柵陣列）、QFP（四方扁平封裝）、DIP（雙列直插封裝）等。

功能與應(yīng)用：一個(gè)芯片可能是微處理器、存儲(chǔ)器、傳感器或其他功能模塊。

它在電子設(shè)備中用作各種功能單元，如手機(jī)的處理器芯片（SoC）、存儲(chǔ)芯片等。

測(cè)試（Final Testing）：芯片封裝后會(huì)進(jìn)行最終測(cè)試，確保其功能和性能滿足設(shè)計(jì)要求。

三者的區(qū)別與聯(lián)系

屬性Wafer（晶圓）Die（芯粒/裸片）Chip（芯片）。

物理形式一整片硅片，包含多個(gè) Die從晶圓上切割出的單個(gè)裸片封裝后的成品芯片

功能狀態(tài)僅為承載電路的基礎(chǔ)材料包含具體功能電路，但未封裝經(jīng)過封裝后，可直接使用

處理階段晶圓加工階段晶圓切割后，測(cè)試前或測(cè)試后封裝與最終測(cè)試后交付

用途半導(dǎo)體制造的原材料電路單元，測(cè)試是否合格獨(dú)立產(chǎn)品，集成到設(shè)備中

單元數(shù)量一片晶圓包含數(shù)百到上萬個(gè) Die單個(gè)裸片是一個(gè) Die單個(gè)芯片通常對(duì)應(yīng)一個(gè) Die，但也可能包含多個(gè) Die。

晶圓制造：高純度硅錠 → 切片 → 拋光 → 擴(kuò)散/離子注入 → 光刻 → 刻蝕 → 金屬化等，制造出晶圓。

晶圓測(cè)試：測(cè)試晶圓上的每個(gè) Die 是否滿足設(shè)計(jì)規(guī)范，標(biāo)記良品與不良品。

晶圓切割（Dicing）：使用激光或切割刀將晶圓分成單個(gè) Die。

Die 封裝（Packaging）：將良品 Die 封裝成 Chip，添加引腳、保護(hù)殼等。

芯片測(cè)試（Final Testing）：驗(yàn)證芯片是否滿足電性能和可靠性要求。

芯片交付：將合格的芯片交付客戶。